菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XULM240核心硬件配置

1. X 射線發射系統

光源：50kV/50W 鎢靶微聚焦 X 射線管，焦點≤50μm，三檔高壓 30/40/50kV 自動適配厚薄鍍層

準直器（4 組電動自動切換）：標配 ?0.1mm、?0.2mm、0.3×0.05mm；可選 0.05×0.05mm 超小微斑

濾片（3 組自動切換）：無濾片、鋁濾片、鎳濾片，適配金、鎳、錫、鋅等不同鍍層元素

探測器：比例計數管，高計數率（數千 CPS），超薄納米鍍層快速測量

2. 樣品定位與觀察系統

500 萬像素彩色工業顯微鏡，38×~184× 連續光學變焦，LED 可調光源，實時標記測量點位

手動 XY 精密工作臺：行程 30×40mm，定位精度 ±0.005mm，微小觸點、線材精準對位

獨特自下而上 X 射線照射，C 型開槽大樣品艙，最大樣品高度 174mm，螺絲、線材、大板 PCB 均可放置

測量距離 0~27.5mm，DCM 距離補償，高低不平樣品無需墊平即可穩定測量

3. 軟件系統 WinFTM®

標配 LIGHT 版，可選 BASIC/PDM/SUPER 專業模塊

支持 100 組測量程序預設，自動存儲數據、統計 CPK、均值、標準差、變異系數 COV

報告導出 Excel/PDF，符合 ISO 3497、ASTM B568、RoHS 射線安全規范